DSpace О системе DSpace
 

eNUFTIR >
Інститут післядипломної освіти (м. Київ) >
Монографії ІПДО >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.nuft.edu.ua/jspui/handle/123456789/28074

Название: Теоретичні та методичні засади оцінки вартості інтелектуальної власності
Другие названия: Theoretical and methodological basis of intellectual property value appraisal
Авторы: Бутнік-Сіверський, Олександр Борисович
Butnik-Seversky, Alexander
Ключевые слова: вартість
ціна
методи оцінки
value
price
appraisal methods
Дата публикации: 2010
Библиографическое описание: Теоретичні та методичні засади оцінки вартості інтелектуальної власності : монографія / за наук. ред.. О. Б. Бутнік-Сіверського ; кол. авторів : О. П. Орлюк, О. Б. Бутнік-Сіверський, Г. О. Андрощук, Л. Ю. Федченко, Ю. Л. Борко, О. О. Тверезенко, І. Л. Шульпін, Н. І. Антонюк. - К. : НДІ ІВ НАПрНУ, Лазурит-Поліграф, 2010. - 475 с.
Краткий осмотр (реферат): Монографія присвячена розкриттю теоретичних і методичних засад оцінки вартості майнових прав інтелектуальної власності в Україні та буде корисна в дослідницький і практичній діяльності оцінювачів, патентних повірених, юристів, судових економічних експертів, економістів, спеціалістів-практиків та працівників державної влади, які пов'язані зі сферою інтелектуальної власності. The monograph is devoted to disclosure of theoretical and methodological basis of intellectual property rights’ value appraisal in Ukraine and will be useful in research and practical activity of appraisers, patent attorneys, lawyers, judicial economic experts, economists, practitioners and employees of the government associated with the sphere of intellectual property.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.nuft.edu.ua/jspui/handle/123456789/28074
Располагается в коллекциях:Монографії ІПДО

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
zasadi_ocinki_vartosti.pdf675,33 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь