Король, Анатолий Николаевич2013-09-052013-09-051979Король, А. М. Исследование влияния глибоких уровней на характеристики контакта металл-полупроводник : автореф. дис… канд.. физ.-мат наук : 01.04.10 / Король Анатолий Николаевич. – Киев, 1979. – 32 с.https://dspace.nuft.edu.ua/handle/123456789/9548Рассматриваются характер и особенности влияния глубоких уровней на вольтамперные , вольтфарадные, шумовые характеристики контакта металл-полупроводник; новая модель глубокого состояния донорного типа; характер и особенности диэлектрического экранирования в полупроводниках In consideration are: the character and specific features of deep levels effect, noise characteristics of the metal-semiconductor contact; the new model of the deep state of donor type, character and specific features of the dielectric screening in semiconductors.глубокие уровниконтакт металл-полупроводникпромежуточный слойdeep levelscontact metal-semiconductorintermediate layerкафедра фізики та професійної безпеки