Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу - Зігунов, Олександр Михайлович; Кишенько, Василь Дмитрович (My University, 2011)
Розглядаються методи обробки і аналізу даних, отриманих підсистемою технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу. Показана можливість ефективного розпізнавання патернів типу «пік» і «повільна хвиля» за вейвлет-спектрами часових рядів. The methods of treatment and analysis of data, got the subsystem of the technological monitoring of diffusive separation of sugar-house are examined. The rotined possibility of effective recognition of paterniv of type of «lances» and «slow wave» is after the veyvlet-spectrums of sentinel rows.
Keywords: система технологічного моніторингу; вейвлет-аналіз; system of the technological monitoring; veyvlet; кафедра автоматизації та комп'ютерних технологій систем управління ім. проф. А.П. Ладанюка