Зігунов, Олександр МихайловичКишенько, Василь Дмитрович2013-08-012013-08-012011Зігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Питання прикладної математики і математичного моделювання : Зб. наук. пр. - Дніпропетровськ, 2011. - С. 109-116.https://dspace.nuft.edu.ua/handle/123456789/9282Розглядаються методи обробки і аналізу даних, отриманих підсистемою технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу. Показана можливість ефективного розпізнавання патернів типу «пік» і «повільна хвиля» за вейвлет-спектрами часових рядів. The methods of treatment and analysis of data, got the subsystem of the technological monitoring of diffusive separation of sugar-house are examined. The rotined possibility of effective recognition of paterniv of type of «lances» and «slow wave» is after the veyvlet-spectrums of sentinel rows.otherпатерн-аналізсистема технологічного моніторингувейвлет-спектртехнологічний процесpatern-analysissystem of the technological monitoringveyvlet-spectrumtechnological processкафедра автоматизації та комп'ютерних технологій систем управління ім. проф. А.П. ЛаданюкаArticle