Орлюк, Олена ПавлівнаБутнік-Сіверський, Олександр БорисовичАндрощук, Георгій ОлександровичФедченко, Людмила ЮріївнаБорко, Юлія ЛеонідівнаТверезенко, Олена ОлексіївнаШульпін, Ігор ЛеонідовичАнтонюк, Наталія Іванівна2018-07-232018-07-232010Теоретичні та методичні засади оцінки вартості інтелектуальної власності : монографія / за наук. ред. О. Б. Бутнік-Сіверського ; кол. авторів : О. П. Орлюк, О. Б. Бутнік-Сіверський, Г. О. Андрощук, Л. Ю. Федченко, Ю. Л. Борко, О. О. Тверезенко, І. Л. Шульпін, Н. І. Антонюк. - К. : НДІ ІВ НАПрНУ, Лазурит-Поліграф, 2010. - 475 с.https://dspace.nuft.edu.ua/handle/123456789/28074Монографія присвячена розкриттю теоретичних і методичних засад оцінки вартості майнових прав інтелектуальної власності в Україні та буде корисна в дослідницький і практичній діяльності оцінювачів, патентних повірених, юристів, судових економічних експертів, економістів, спеціалістів-практиків та працівників державної влади, які пов'язані зі сферою інтелектуальної власності. The monograph is devoted to disclosure of theoretical and methodological basis of intellectual property rights’ value appraisal in Ukraine and will be useful in research and practical activity of appraisers, patent attorneys, lawyers, judicial economic experts, economists, practitioners and employees of the government associated with the sphere of intellectual property.uk-UKвартістьцінаметоди оцінкиvaluepriceappraisal methodsТеоретичні та методичні засади оцінки вартості інтелектуальної власностіLearning Object