DSpace О системе DSpace
 

eNUFTIR >
Нормативно-технічна документація >
Стандарти >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.nuft.edu.ua/jspui/handle/123456789/706

Название: Сир і плавлений сир. Гравіметричний метод визначення вмісту жиру (контрольний метод)
Другие названия: Cheese and processed cheese products. Determination of fat content. Gravimetric method. (Reference method)
Авторы: Українець, Анатолій Іванович
Хомічак, Любомир Михайлович
Савченко, Олександр Аркадійович
Грек, Олена Вікторівна
Ukrainets, Anatoliy
Homichak, Lubomir
Savchenko, Alexander
Grek, Elena
Ключевые слова: стандарт
standard
сир
плавлений сир
гравіметричний метод
сыр
плавленный сыр
гравиметрический метод
cheese
кафедра технології цукру і підготовки води
кафедра технології молока і молочних продуктів
Дата публикации: 2012
Библиографическое описание: ДСТУ ISO 1735:2005. Сир і плавлений сир. Гравіметричний метод визначення вмісту жиру (контрольний метод). – Вид. офіц.. – К.: Держспоживстандарт України, 2007.
Краткий осмотр (реферат): Національний стандарт відповідає ІSO 1735:1987 Сир і плавлений сир. Гравіметричний метод визначення вмісту жиру (контрольний метод). Ступінь відповідності – ідентичний (IDT). Уведено вперше.
Национальный стандарт отвечает ІSO 1735:1987 Сыр и плавленный сыр. Гравиметрический метод определения содержимого жира (контрольный метод). Степень соответствия – идентична (IDT). Введено впервые.
A national standard meets ІSO 1735: Cheese and processed cheese products - Determination of fat content - Gravimetric method. (Reference method). A degree of accordance is identical (IDT).
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.nuft.edu.ua/jspui/handle/123456789/706
Располагается в коллекциях:Стандарти

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
3plav.pdf15,63 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь