Спосіб спільного визначення теплофізичних характеристик матеріалів і метрологічних характеристик теплометричного приладу

Abstract

У статті розроблено спосіб вимірювання, за яким ТФХ дослідного матеріалу і метрологічні характеристики (МХ) ТФХ-приладу визначаються за результатами експериментів з цим же матеріалом, який, інакше кажучи, одночасно є дослідним і еталонним матеріалом. Встановлено, що незалежно від виду теплового режиму (стаціонарний, перехідний, регулярний або будь-який інший), а також будови приладу, всі способи комплексного теплометричного визначення ТФХ матеріалів зво дяться до отримання систем рівнянь, складених з рівнянь, що враховують термічний Rx та ємнісний Px баластні опори зразка матеріалу. Для визна чення цих опорів та подальшого розрахунку Хх і (ср)х дослідного матеріалу потрібно попередньо визначати М Х ТФХ-приладу, а саме: баластні терміч ний Rb і ємнісний опори Pb, а також робочі коефіцієнти термоелектричних перетворювачів температури (ПТ) Kt і теплового потоку (ПТП) Kq, ТФХ приладу. Найбільш поширеним і, одночасно, одним з найпростіших у реалізації для визначення М Х ТФХ-приладів є спосіб, де характеристики приладу визна чаються за результатами дослідів з еталонними матеріалами, причому саме використання еталонного матеріалу є основним недоліком цього способу. Оскільки за результатами дослідів з еталонними матеріалами неможливо одночасно визначати робочі коефіцієнти П ТП і ПТ ТФХ-приладу, введено поняття узагальнюючого робочого коефіцієнту термоелектричних перетво рювачів Ке ТФХ-приладу, що дало можливість, використовуючи аналітично графічні методи, розробити принципово новий спосіб комплексного визначе ння ТФХ матеріалу, за яким ТФХ матеріалу та М Х приладу визначаються одночасно за результатами експерименту зі зразками дослідного матеріалу