Перегляд за Автор "Заика, Владимир Иванович"

Зараз показуємо 1 - 3 з 3

Анализ сложных технологических объектов управления с хаотическим поведением
(2013) Кишенько, Василий Дмитриевич; Заика, Владимир Иванович
Проводится анализ сложных технологических объектов сахарной промышленности с помощью рекуррентных диаграмм временных рядов технологических переменных. Данный метод позволяет осуществлять оценку типа поведения технологической системы, что повысит эффективность принятия решений по управлению. The analysis of difficult technological objects of saccharine industry is conducted by the recurrent diagrams of temporal rows of technological variables. This method allows to carry out the estimation of type of conduct of the technological system, that will promote efficiency of making decision on a management.
Выявление предвестников кардинальных изменений состояния сложной динамической системы станции дефекосатурации сахарного завода
(2013) Заика, Владимир Иванович; Кишенько, Василий Дмитриевич
Предлагается использовать для определения предвестников кардинальных изменений поведения станции дефекосатурации сахарного завода метод фликкер-шумовой спектроскопии. Во временных радах сложной динамической системы были обнаружены низкочастотные шумы, несущие информацию о будущем перерождении, то есть переходе технологического комплекса в новое устойчивое состояние. It is suggested to use the method of flikker-noise spectroscopy for determination of precursors of cardinal changes of conduct the station of defecosaturation of sugar-house. In the temporal rads of the difficult dynamic system were found out nizkochastotnye noises, bearings information about a future regeneration, that passing of technological complex to the new stable state.
Фликкер-шумовая спектроскопия в анализе динамической системы станции дефекосатурации
(2011) Заика, Владимир Иванович; Кишенько, Василий Дмитриевич
Приведены результаты использования методов фликкер-шумовой спектроскопии в задачах технологического мониторинга. The results of the methods of flicker-noise spectroscopy in process monitoring tasks.