Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу

dc.contributor.authorЗігунов, Олександр Михайлович
dc.contributor.authorКишенько, Василь Дмитрович
dc.date.accessioned2013-08-01T12:49:59Z
dc.date.available2013-08-01T12:49:59Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractРозглядаються методи обробки і аналізу даних, отриманих підсистемою технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу. Показана можливість ефективного розпізнавання патернів типу «пік» і «повільна хвиля» за вейвлет-спектрами часових рядів. The methods of treatment and analysis of data, got the subsystem of the technological monitoring of diffusive separation of sugar-house are examined. The rotined possibility of effective recognition of paterniv of type of «lances» and «slow wave» is after the veyvlet-spectrums of sentinel rows.uk_UK
dc.identifier.citationЗігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Питання прикладної математики і математичного моделювання : Зб. наук. пр. - Дніпропетровськ, 2011. - С. 109-116.uk_UK
dc.identifier.urihttps://dspace.nuft.edu.ua/handle/123456789/9282
dc.language.isootheruk_UK
dc.subjectпатерн-аналізuk_UK
dc.subjectсистема технологічного моніторингуuk_UK
dc.subjectвейвлет-спектрuk_UK
dc.subjectтехнологічний процесuk_UK
dc.subjectpatern-analysisuk_UK
dc.subjectsystem of the technological monitoringuk_UK
dc.subjectveyvlet-spectrumuk_UK
dc.subjecttechnological processuk_UK
dc.subjectкафедра автоматизації та комп'ютерних технологій систем управління ім. проф. А.П. Ладанюка
dc.titleПатерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводуuk_UK
dc.typeArticleuk_UK

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
1.pdf
Розмір:
2.98 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:

Колекції