Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу
Файли
Дата
2011
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Розглядаються методи обробки і аналізу даних, отриманих підсистемою технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу. Показана можливість ефективного розпізнавання патернів типу «пік» і «повільна хвиля» за вейвлет-спектрами часових рядів. The methods of treatment and analysis of data, got the subsystem of the technological monitoring of diffusive separation of sugar-house are examined. The rotined possibility of effective recognition of paterniv of type of «lances» and «slow wave» is after the veyvlet-spectrums of sentinel rows.
Опис
Ключові слова
патерн-аналіз, система технологічного моніторингу, вейвлет-спектр, технологічний процес, patern-analysis, system of the technological monitoring, veyvlet-spectrum, technological process, кафедра автоматизації та комп'ютерних технологій систем управління ім. проф. А.П. Ладанюка
Бібліографічний опис
Зігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Питання прикладної математики і математичного моделювання : Зб. наук. пр. - Дніпропетровськ, 2011. - С. 109-116.