Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу

Ескіз

Дата

2011

ORCID

DOI

item.page.thesis.degree.name

item.page.thesis.degree.level

item.page.thesis.degree.discipline

item.page.thesis.degree.department

item.page.thesis.degree.grantor

item.page.thesis.degree.advisor

item.page.thesis.degree.committeeMember

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

Анотація

Розглядаються методи обробки і аналізу даних, отриманих підсистемою технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу. Показана можливість ефективного розпізнавання патернів типу «пік» і «повільна хвиля» за вейвлет-спектрами часових рядів. The methods of treatment and analysis of data, got the subsystem of the technological monitoring of diffusive separation of sugar-house are examined. The rotined possibility of effective recognition of paterniv of type of «lances» and «slow wave» is after the veyvlet-spectrums of sentinel rows.

Опис

Ключові слова

патерн-аналіз, система технологічного моніторингу, вейвлет-спектр, технологічний процес, patern-analysis, system of the technological monitoring, veyvlet-spectrum, technological process, кафедра автоматизації та комп'ютерних технологій систем управління ім. проф. А.П. Ладанюка

Бібліографічний опис

Зігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації у підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Питання прикладної математики і математичного моделювання : Зб. наук. пр. - Дніпропетровськ, 2011. - С. 109-116.

Колекції

item.page.endorsement

item.page.review

item.page.supplemented

item.page.referenced