Експрес-метод визначення вологості хмелю (Делараційний патент на винахід № 62607)

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЛітвинчук (Воронцова), Світлана Іванівна
dc.contributor.authorНосенко, Володимир Єрофійович
dc.contributor.authorНосенко, Тамара Тихонівна
dc.contributor.authorМелетьєв, Анатолій Євгенович
dc.contributor.authorТроценко, Павло Олександрович
dc.date.accessioned2013-07-03T09:46:31Z
dc.date.available2013-07-03T09:46:31Z
dc.date.issued2003
dc.description.abstractЕкспрес-метод визначення вологості хмелю передбачає вимірювання інтенсивності спектра дифузного відбивання. Визначення здійснюють в інтервалі довжин хвиль 1,85-2,01 мкм з попереднім подрібненням зразка та просіюванням часток хмелю крізь сито з розмірами отворів 0,294-1 мм.uk_UK
dc.identifier.citationПатент 62607 А України, МПК7 С12С3/00 G01J3/00 (2006) Експрес-метод визначення вологості хмелю / С. І. Воронцова, В. Є. Носенко, Т. Т. Носенко, А. Є. Мелетьєв, П. О. Троценко. – № 2003043386 ; заявл. 15.04.2003 ; опубл. 15.12.2003, Бюл. № 12.uk_UK
dc.identifier.urihttps://dspace.nuft.edu.ua/handle/123456789/8765
dc.language.isootheruk_UK
dc.subjectхмільuk_UK
dc.subjectінфрачервоний аналізаторuk_UK
dc.subjectвологістьuk_UK
dc.subjectаналізuk_UK
dc.subjectхмельuk_UK
dc.subjectинфракрасный анализаторuk_UK
dc.subjectвлажностьuk_UK
dc.subjectанализuk_UK
dc.subjecthopsuk_UK
dc.subjectinfrared analyzeruk_UK
dc.subjecthumidityuk_UK
dc.subjectanalysisuk_UK
dc.subjectкафедра технології жирів, хімічних технологій харчових добавок та косметичних засобів
dc.subjectкафедра фізики та професійної безпеки
dc.subjectкафедра біотехнології продуктів бродіння і виноробства
dc.titleЕкспрес-метод визначення вологості хмелю (Делараційний патент на винахід № 62607)uk_UK
dc.typeTechnical Reportuk_UK

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
PW.pdf
Розмір:
127.15 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Патенти