Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЗігунов, Олександр Михайлович
dc.contributor.authorКишенько, Василь Дмитрович
dc.date.accessioned2013-09-24T10:41:09Z
dc.date.available2013-09-24T10:41:09Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractЗапропонований метод виявлення патернів в часових рядах за допомогою вейвлет-перетворень.The offered method of exposure of paterniv is in sentinel rows by veyvlet-transformations.uk_UK
dc.identifier.citationЗігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Тези доповідей. VIII Міжнародна науково-практична конференція "Математичне та програмне забезпечення інтелектуальних систем (MPZIS-2010), 10-12 листопада 2010 р.:– Дніпропетровськ: ДНУ ім. Олеся Гончара, 2011. - С. 109-116.uk_UK
dc.identifier.urihttps://dspace.nuft.edu.ua/handle/123456789/9894
dc.subjectцукрове виробництвоuk_UK
dc.subjectпатернuk_UK
dc.subjectвейвлет-перетворенняuk_UK
dc.subjectsaccharine productionuk_UK
dc.subjectpaternuk_UK
dc.subjectveyvlet-transformationuk_UK
dc.subjectкафедра автоматизації та комп'ютерних технологій систем управління
dc.titleПатерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводуuk_UK

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
1.pdf
Розмір:
3.02 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Тези доповідей