Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу
Вантажиться...
Файли
Дата
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Запропонований метод виявлення патернів в часових рядах за допомогою вейвлет-перетворень.The offered method of exposure of paterniv is in sentinel rows by veyvlet-transformations.
Опис
Бібліографічний опис
Зігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Тези доповідей. VIII Міжнародна науково-практична конференція "Математичне та програмне забезпечення інтелектуальних систем (MPZIS-2010), 10-12 листопада 2010 р.:– Дніпропетровськ: ДНУ ім. Олеся Гончара, 2011. - С. 109-116.