Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу
Loading...
Files
Date
item.page.orcid
item.page.doi
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Abstract
Запропонований метод виявлення патернів в часових рядах за допомогою вейвлет-перетворень.The offered method of exposure of paterniv is in sentinel rows by veyvlet-transformations.
Description
Citation
Зігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Тези доповідей. VIII Міжнародна науково-практична конференція "Математичне та програмне забезпечення інтелектуальних систем (MPZIS-2010), 10-12 листопада 2010 р.:– Дніпропетровськ: ДНУ ім. Олеся Гончара, 2011. - С. 109-116.